Машина для определения глубины залегания Р-П перехода — шт | |
Машина для определения глубины залегания Р-П перехода — шт |
Таблица 32-01-101. Оборудование для контроля
Номер расценки | Наименование и характеристика работ и конструкций | ||
---|---|---|---|
Установка визуального контроля качества проявления и качества поверхности полупроводниковых пластин — шт | 29.2 | 0.16 | |
Машина для определения глубины залегания Р-П перехода — шт | 36 | 0.34 | |
Установка функционального контроля — шт | 29.2 | 0.24 | |
Установка двухпозиционная для визуального контроля масок — шт | 37.1 | 0.3 | |
Установка контроля сферы маски — шт | 41.5 | 0.48 | |
Система параметрического функционального контроля полупроводниковых ЗУ и БИС микропроцессоров — компл | 58.4 | 1.2 | |
Установка контроля прозрачности сферизованных масок ЦЭЛТ — компл | 32.6 | 0.23 | |
Система контроля микроканальных пластин по структурным параметрам лазерная с управлением от ЭВМ — компл | 49.4 | 1.3 | |
Установка контроля параметров: микроканальных пластин — компл | 67.4 | 0.9 | |
Установка контроля параметров: катодолюминофоров — компл | 56.1 | 1.38 |